Donnerstag, 18. Oktober 2018

Präsentationen

Vortrag 1 
Die neue Normenreihe IEC 62631 - dielektrische und resistive Materialcharakterisierung an festen Isolierstoffen der Elektrotechnik
H. Haupt, MPA-IFW, TU Darmstadt
Keine Veröffentlichung
Vortrag 2 
Schichtdickenmessung mit Röntgenfluoreszenz: Kalibrierung versus standardfreie Methoden. Wie wird die Rückführbarkeit gewährleistet?
B. Nensel, Helmut Fischer, Sindelfingen
Keine Veröffentlichung
Vortrag 3 
Charakterisierung von Stahlwerkstoffen mit Ultraschallmethoden
M. Stolzenberg, Salzgitter Mannesmann Forschung, Salzgitter
G.-J. Deppe, Salzgitter Mannesmann Forschung, Duisburg
D. Fingerhut, TU Carolo-Wilhelmina Braunschweig, Salzgitter
Keine Veröffentlichung
Vortrag 4 
Charakterisierung von Cordierite mit unterschiedlichen Methoden (X-ray, Neutronen)
G. Bruno, K. Ehrig, M.P. Hentschel, A. Kupsch, A. Lange, B.R. Müller, Y. Onel, A. Staude, T. Wolk, BAM, Berlin
S. Vogel, Los Alamos National Laboratory, NM, USA
Kurzfassung + Powerpoint
Vortrag 5 
Mikrorissbildung in Faser-Kunststoff-Verbunden charakterisiert mit SAXS – Materialforschung und Praxis
V. Trappe, S. Hickmann, K. Metzkes, H.-P. Ortwein, BAM, Berlin
Keine Veröffentlichung
Vortrag 6 
Zerstörungsfreie Charakterisierung und Prüfung faserverstärkter Kunststoffkomposite mit akustischen Verfahren
U. Rabe, C. Boller, T.B. Helfen, H.-G. Herrmann, S. Hirsekorn, M. Weikert, Fraunhofer IZFP, Saarbrücken
Kurzfassung + Powerpoint
Vortrag 7 
Analyse dielektrischer Eigenschaften von Harzsystemen für CFK mittels Hochfrequenz-Wirbelstromverfahren
S. Gäbler, H. Heuer, Fraunhofer IZFP, Dresden
Kurzfassung + Powerpoint
Vortrag 8 
Richtlinie Zerstörungsfreie Materialprüfung
L. Spieß, TU Ilmenau
V. Trappe, BAM, Berlin
J.D. Schnapp, Friedrich-Schiller-Universität Jena
B. Nensel, Helmut Fischer, Sindelfingen
G. Teichert, MFPA Weimar, TU Ilmenau
Kurzfassung + Powerpoint

Hinweise zu den Lizenzen